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广立微电子取得版图自检方法相关专利,该方法可快速验着色层,提芯片设计效率

导读:广立微电子取得版图自检方法相关专利,该方法可快速验着色层,提芯片设计效率

9月2日消息,国家知识产权局信息显示,杭州广立微电子股份有限公司申请一项名为“一种版图自检方法及存储设备”的专利,授权公告号CN115408981B,授权公告日为2026年9月1日。申请公布号为CN115408981A,申请号为CN202210865534.5,申请公布日期为2026年9月1日,申请日期为2022年7月21日,发明人黄倩滨、彭焱,专利代理机构苏州石金知识产权代理事务所(普通合伙),专利代理师张璐豪,分类号G06F30/398、G06F30/392。

专利摘要显示,本发明提供一种版图自检方法,包括获取版图中的全部或部分待自检的绕线路径信息,以及预设的版图着色层规则;利用所述预设的版图着色层规则,分别对所述待自检的绕线路径的着色层信息进行自检,包括:遍历检查所述待自检的绕线路径中每个连接块的着色层是否正确,获得自检结果。采用本发明的自检方法可在自动绕线结束后对版图着色层进行快速验证,能尽早发现问题;并且对于金属层路径各种各样的连接情况,都能自动并快速验证金属层上覆盖的着色层的正确性,利于提高芯片设计效率、进一步优化工艺。本发明还提供的一种存储设备具有相应优势。

广立微是国内领先的集成电路EDA与测试设备领域专精特新企业,2003年8月12日成立,2022年8月5日于深圳证券交易所上市,注册及办公地点均位于浙江省杭州市。

公司主营业务为集成电路EDA软件和晶圆级电性测试设备的设计、开发与服务,申万行业分类隶属于计算机-软件开发-垂直应用软件,同时覆盖专精特新、并购重组、光刻机等概念板块。

2026年上半年,广立微实现营业收入3.41亿元,在所属垂直应用软件行业101家企业中排名第46位,该期行业营收第一名上海钢联达385.21亿元、第二名德赛西威为149.01亿元,行业平均营收11.37亿元,行业中位数为2.65亿元;营收结构中测试设备及配件贡献2.13亿元,占比62.41%,软件开发及授权业务收入1.26亿元,占比37.04%,测试服务及其他收入187.01万元,占比0.55%。同期公司实现净利润2939.44万元,行业排名第27位,当期行业净利润第一名德赛西威为12.22亿元、第二名同花顺达9.52亿元,行业平均净利润842.07万元,行业中位数为-1170.75万元,盈利表现优于行业中位水平。

指标类别 具体指标 数值 对应行业参考值
营收类 2026年上半年营业收入 3.41亿元 行业均值11.37亿元、中位数2.65亿元
营收构成 测试设备及配件收入占比 62.41% -
营收构成 软件开发及授权收入占比 37.04% -
营收构成 测试服务及其他收入占比 0.55% -
净利润类 2026年上半年净利润 2939.44万元 行业均值842.07万元、中位数-1170.75万元

杭州广立微电子股份有限公司近期专利情况如下:

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人
1一种版图图形的连通性判断方法、装置和可读存储介质发明专利公布CN202611081333.02026-07-21CN122598222A2026-08-18王雁叶、张永博、徐海达
2基于图形独立性的图形处理方法、装置、介质和仿真方法发明专利公布CN202610943860.12026-06-29CN122471983A2026-07-28王雁叶、张永博、徐海达
3一种金属表面沉积形貌的仿真方法、装置和可读存储介质发明专利授权CN202610628188.72026-05-09CN122154629B2026-08-18谢煜威、邢华林
4高精度可寻址环形振荡器测试芯片、方法、装置和介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610466440.92026-04-10CN122109689A2026-05-29杨璐丹、俞姚杰、蓝帆、应迪、李猛超、郑勇军
5单向扫描方法、装置、存储介质和仿真方法发明专利授权CN202610131140.52026-01-30CN121615594B2026-07-03王雁叶、张永博、徐海达
6一种半导体数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610100712.32026-01-26CN121984514A2026-05-05金培源、陈小川、邵康鹏
7仿真软件测试方法、计算机设备、存储介质和程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202610102887.82026-01-26CN122174783A2026-06-09邢华林、谢煜威、吴徐伟
8片上可寻址的晶体管测试电路及方法、装置、芯片和介质发明专利公布CN202512053326.12025-12-31CN121831442A2026-04-10施姣、杨璐丹、尤炎
9一种晶圆图像的标尺识别方法、系统和可读存储介质发明专利公布CN202512037948.52025-12-31CN121838169A2026-04-10林郁昊、姜辉、王啸飞
10一种图像聚类方法、系统和可读存储介质发明专利公布CN202512036200.32025-12-31CN121837680A2026-04-10王啸飞、姜辉
11自动化测试方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202512052207.42025-12-31CN121858289A2026-04-14黄倩滨、吴徐伟、代明杨
12用于电子设备的晶圆缺陷图案分析图形用户界面外观专利授权CN202530780265.72025-12-31CN310163104S2026-08-21姜辉、张鹏、叶倩倩、曹桫敏
13用于电子设备的晶圆缺陷图案匹配图形用户界面外观专利授权CN202530780311.32025-12-31CN310163105S2026-08-21叶倩倩、姜辉、曹桫敏
14一种图像缺陷检测方法、系统和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511869626.02025-12-11CN121353267A2026-01-16林立恒、姜辉、叶倩倩
15片上测试电路及其设计与测试方法、装置、芯片和介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511826641.72025-12-05CN121500066A2026-02-10罗惠元、郑琳、蓝帆、王山川、王同营
16并行测试方法及模块信息转换方法、装置和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511826889.32025-12-05CN121613289A2026-03-06王琦、毛俊
17基于失效模式的测试芯片设计方法、装置、介质和芯片发明专利实质审查的生效、公布CN202511397346.42025-09-28CN121189256A2025-12-23施姣、杨璐丹、瞿屹超
18一种数字电路的仿真方法、装置、系统、设备和介质发明专利公布CN202510871865.32025-06-26CN120832857A2025-10-24彭华晨、连海鹏、王名洺、邵哲青、任杰
19面向电路可测试性的设计规则检查方法、装置和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202510872134.02025-06-26CN120850942A2025-10-28董彦璐、任杰
20扫描链重组方法、装置、设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202510833484.62025-06-20CN121303022A2026-01-09连海鹏、任杰
21低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备发明专利授权、公布CN202510766209.72025-06-10CN120294544B2025-09-16王瀚锌
22DRC测试结果验证方法、装置、设备和存储介质发明专利授权、实质审查的生效CN202510758113.62025-06-09CN120278095B2025-11-18张鹏飞
23芯片的时钟信号生成方法、电路和计算机可读存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202510707329.X2025-05-29CN120215627A2025-06-27曾冉冉、蓝帆、潘伟伟、王山川
24芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统发明专利授权CN202510706792.22025-05-29CN120236642B2025-11-18王山川、蓝帆、俞姚杰
25存储芯片和半导体测试系统发明专利授权CN202510707791.X2025-05-29CN120236643B2025-11-25王山川、蓝帆、曾冉冉
26阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202510631171.22025-05-16CN120148599A2025-06-13王同营、于天祺
27探针卡针尖状况检测方法、结构、晶圆以及晶圆测试方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202510517717.12025-04-24CN120044341B2025-07-18陈海平、林均铭
28测试方案生成方法及知识库构建方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510488799.12025-04-17CN120629852A2025-09-12王啸飞、姜辉、蒲怀建
29半导体设备文档生成方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利公布CN202510488599.62025-04-17CN120764510A2025-10-10王啸飞、姜辉、蒲怀建
30用于电子设备的报警模拟与分析图形用户界面外观专利授权CN202530122735.02025-03-14CN310000170S2026-05-26詹昀谕、曹桫敏
31用于晶圆键合工艺检测的测试结构实用新型授权CN202520003257.62025-01-02CN223712767U2025-12-23黄琦
32半导体栅极侧墙厚度测试方法、结构、装置及存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411795950.82024-12-09CN119297105B2025-04-01陈海平
33基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411688634.02024-11-25CN119203909B2025-04-08俞姚杰、杨璐丹、潘伟伟
34探针针压自动控制装置和晶圆接受测试系统发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411678454.42024-11-22CN119178914B2025-08-08陈海平
35ILD厚度监测结构实用新型授权CN202422857931.52024-11-22CN223450897U2025-10-17侯嘉慧、苌文龙、袁天浩
36一种用于监控注入阴影效应的测试结构实用新型授权CN202422629751.12024-10-30CN223414082U2025-10-03郑苗苗、苌文龙
37版图图形的插孔方法、装置、存储介质和仿真方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411441627.02024-10-16CN118966139B2025-07-01郭瑞琦、张永博
38基于空间索引的插孔方法、装置、存储介质和设备发明专利实质审查的生效、公布CN202411442992.32024-10-16CN121881961A2026-04-17张永博、郭瑞琦
39一种版图处理方法、装置和计算机可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411428046.32024-10-14CN118940711B2025-07-01张永博、郭瑞琦
40基于器件属性概率分布的器件选择方法、装置及存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、公布CN202411411601.12024-10-11CN118942107A2024-11-12王同营、蓝帆
41基于器件属性概率分布的器件筛选方法、装置及存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、公布CN202411411577.12024-10-11CN118942106A2024-11-12王山川、蓝帆
42版图文件拼接方法、装置和计算机可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411368670.92024-09-29CN118887085B2025-03-18施向波、张永博
43一种设计规则检查结果的过滤方法、装置及存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411357796.62024-09-27CN118862827B2025-02-25鲁海洋、方益
44晶圆数据处理方法、装置、芯片和计算机可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411360685.02024-09-26CN119312101A2025-01-14万海洋、杨文浩
45晶圆数据处理方法、装置、芯片和计算机可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411353880.02024-09-26CN119312185A2025-01-14万海洋、杨文浩
46数据处理方法、装置、芯片和计算机可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411360549.12024-09-26CN119312247A2025-01-14万海洋、杨文浩
47一种版图结构自动抽取方法发明专利著录事项变更、授权、实质审查的生效、公布CN202411349066.12024-09-26CN118862807B2025-03-14彭焱、黄雁玲
48栅极多晶硅短接测试结构及其生成方法、装置和存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411346965.62024-09-26CN118858907B2025-03-18吴振雄、杨璐丹、林均铭
49栅极多晶硅断路测试结构及生成方法、装置、设备和介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411346862.X2024-09-26CN118858905B2025-03-18吴振雄、杨璐丹、林均铭
50一种半导体数据处理方法、分析方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利授权、公布CN202411337215.22024-09-25CN118897856B2025-02-07贺祖辉

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