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广立微电子取得环形振荡器版图相关专利,提升环形振荡器版图设计效率与可控性

导读:广立微电子取得环形振荡器版图相关专利,提升环形振荡器版图设计效率与可控性

9月9日消息,国家知识产权局信息显示,杭州广立微电子股份有限公司申请一项名为“一种自动生成环形振荡器版图的方法”的专利,授权公告号CN116882340B,授权公告日为2026年9月4日。申请公布号为CN116882340A,申请号为CN202310845261.2,申请公布日期为2026年9月4日,申请日期为2023年7月11日,发明人曾祥芮、杨璐丹、潘伟伟,专利代理机构苏州石金知识产权代理事务所(普通合伙),专利代理师张璐豪,分类号G06F30/337。

专利摘要显示,本发明提供一种自动生成环形振荡器版图的方法,包括:布局规划和基本单元级间输入输出端口连线;所述基本单元包括与非门和反相器;其中布局规划的方法包括:获取预设的多种单元尺寸;计算得到所述多种单元尺寸分别在相互正交的两个方向上的最大公约数;计算得到所述基本单元在所述所占区域的第一坐标,并存储所述第一坐标;基于所述第一坐标和所述基本单元的级数完成所述基本单元的摆放。避免了较为复杂繁琐的软件全流程设计,绕线结果可控性更好;提升了环形振荡器版图设计效率,能大幅缩短设计时间,可重用性高。

广立微是国内领先的集成电路EDA软件与晶圆级电性测试设备供应商,2003年8月12日成立,2022年8月5日于深圳证券交易所上市,注册及办公地点均位于浙江省杭州市。

广立微主营业务为集成电路EDA软件和晶圆级电性测试设备的设计、开发、服务,所属申万行业为计算机-软件开发-垂直应用软件,同时覆盖专精特新、光刻机、小盘股等概念板块。

2026年上半年,广立微实现营业收入3.41亿元,在101家同行业公司中排名第46位,低于行业平均11.37亿元,高于行业中位数2.65亿元,同期行业营收前两位分别为上海钢联385.21亿元、德赛西威149.01亿元;主营业务构成中,测试设备及配件收入2.13亿元占比62.41%,软件开发及授权收入1.26亿元占比37.04%,测试服务及其他收入187.01万元占比0.55%。当期公司实现净利润2939.44万元,行业排名第27位,高于行业平均842.07万元与行业中位数-1170.75万元,同期行业净利润前两位分别为德赛西威12.22亿元、同花顺9.52亿元。

指标类别 具体指标 数值/占比 行业排位/对比基准
营收表现 2026年上半年营业收入 3.41亿元 46/101,低于行业均值11.37亿元,高于行业中位数2.65亿元
营收构成 测试设备及配件收入 2.13亿元 占比62.41%
营收构成 软件开发及授权收入 1.26亿元 占比37.04%
营收构成 测试服务及其他收入 187.01万元 占比0.55%
净利润表现 2026年上半年净利润 2939.44万元 27/101,高于行业均值842.07万元、行业中位数-1170.75万元

杭州广立微电子股份有限公司近期专利情况如下:

序号专利名称专利类型法律状态申请号申请日期公开(公告)号公开(公告)日期发明人
1一种版图图形的连通性判断方法、装置和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202611081333.02026-07-21CN122598222A2026-08-18王雁叶、张永博、徐海达
2基于图形独立性的图形处理方法、装置、介质和仿真方法发明专利公布CN202610943860.12026-06-29CN122471983A2026-07-28王雁叶、张永博、徐海达
3一种金属表面沉积形貌的仿真方法、装置和可读存储介质发明专利授权CN202610628188.72026-05-09CN122154629B2026-08-18谢煜威、邢华林
4一种监测有源区工艺均匀性的测试结构和测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610562563.22026-04-27CN122592733A2026-08-18姜慧虹、黄琦
5高精度可寻址环形振荡器测试芯片、方法、装置和介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610466440.92026-04-10CN122109689A2026-05-29杨璐丹、俞姚杰、蓝帆、应迪、李猛超、郑勇军
6单向扫描方法、装置、存储介质和仿真方法发明专利授权CN202610131140.52026-01-30CN121615594B2026-07-03王雁叶、张永博、徐海达
7一种半导体数据处理方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610100712.32026-01-26CN121984514A2026-05-05金培源、陈小川、邵康鹏
8仿真软件测试方法、计算机设备、存储介质和程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202610102887.82026-01-26CN122174783A2026-06-09邢华林、谢煜威、吴徐伟
9片上可寻址的晶体管测试电路及方法、装置、芯片和介质发明专利公布CN202512053326.12025-12-31CN121831442A2026-04-10施姣、杨璐丹、尤炎
10一种晶圆图像的标尺识别方法、系统和可读存储介质发明专利公布CN202512037948.52025-12-31CN121838169A2026-04-10林郁昊、姜辉、王啸飞
11一种图像聚类方法、系统和可读存储介质发明专利公布CN202512036200.32025-12-31CN121837680A2026-04-10王啸飞、姜辉
12自动化测试方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品发明专利实质审查的生效、公布CN202512052207.42025-12-31CN121858289A2026-04-14黄倩滨、吴徐伟、代明杨
13用于电子设备的晶圆缺陷图案分析图形用户界面外观专利授权CN202530780265.72025-12-31CN310163104S2026-08-21姜辉、张鹏、叶倩倩、曹桫敏
14用于电子设备的晶圆缺陷图案匹配图形用户界面外观专利授权CN202530780311.32025-12-31CN310163105S2026-08-21叶倩倩、姜辉、曹桫敏
15一种图像缺陷检测方法、系统和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511869626.02025-12-11CN121353267A2026-01-16林立恒、姜辉、叶倩倩
16片上测试电路及其设计与测试方法、装置、芯片和介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511826641.72025-12-05CN121500066A2026-02-10罗惠元、郑琳、蓝帆、王山川、王同营
17并行测试方法及模块信息转换方法、装置和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511826889.32025-12-05CN121613289A2026-03-06王琦、毛俊
18基于失效模式的测试芯片设计方法、装置、介质和芯片发明专利实质审查的生效、公布CN202511397346.42025-09-28CN121189256A2025-12-23施姣、杨璐丹、瞿屹超
19一种数字电路的仿真方法、装置、系统、设备和介质发明专利公布CN202510871865.32025-06-26CN120832857A2025-10-24彭华晨、连海鹏、王名洺、邵哲青、任杰
20面向电路可测试性的设计规则检查方法、装置和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202510872134.02025-06-26CN120850942A2025-10-28董彦璐、任杰
21扫描链重组方法、装置、设备和存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202510833484.62025-06-20CN121303022A2026-01-09连海鹏、任杰
22低引脚数芯片测试电路、测试方法及设备发明专利授权、公布CN202510766209.72025-06-10CN120294544B2025-09-16王瀚锌
23DRC测试结果验证方法、装置、设备和存储介质发明专利授权、实质审查的生效CN202510758113.62025-06-09CN120278095B2025-11-18张鹏飞
24芯片的时钟信号生成方法、电路和计算机可读存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、实质审查的生效、公布CN202510707329.X2025-05-29CN120215627A2025-06-27曾冉冉、蓝帆、潘伟伟、王山川
25芯片读写能力测试设备、方法、可读存储介质和系统发明专利授权CN202510706792.22025-05-29CN120236642B2025-11-18王山川、蓝帆、俞姚杰
26存储芯片和半导体测试系统发明专利授权CN202510707791.X2025-05-29CN120236643B2025-11-25王山川、蓝帆、曾冉冉
27阈值电压测试电路、测试芯片、测试方法和可读存储介质发明专利实质审查的生效、实质审查的生效、公布CN202510631171.22025-05-16CN120148599A2025-06-13王同营、于天祺
28探针卡针尖状况检测方法、结构、晶圆以及晶圆测试方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202510517717.12025-04-24CN120044341B2025-07-18陈海平、林均铭
29测试方案生成方法及知识库构建方法发明专利实质审查的生效、公布CN202510488799.12025-04-17CN120629852A2025-09-12王啸飞、姜辉、蒲怀建
30半导体设备文档生成方法、装置、计算机设备和存储介质发明专利公布CN202510488599.62025-04-17CN120764510A2025-10-10王啸飞、姜辉、蒲怀建
31用于电子设备的报警模拟与分析图形用户界面外观专利授权CN202530122735.02025-03-14CN310000170S2026-05-26詹昀谕、曹桫敏
32用于晶圆键合工艺检测的测试结构实用新型授权CN202520003257.62025-01-02CN223712767U2025-12-23黄琦
33半导体栅极侧墙厚度测试方法、结构、装置及存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411795950.82024-12-09CN119297105B2025-04-01陈海平
34基于测试结构设计的绕线方法、绕线装置和可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411688634.02024-11-25CN119203909B2025-04-08俞姚杰、杨璐丹、潘伟伟
35探针针压自动控制装置和晶圆接受测试系统发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411678454.42024-11-22CN119178914B2025-08-08陈海平
36ILD厚度监测结构实用新型授权CN202422857931.52024-11-22CN223450897U2025-10-17侯嘉慧、苌文龙、袁天浩
37一种用于监控注入阴影效应的测试结构实用新型授权CN202422629751.12024-10-30CN223414082U2025-10-03郑苗苗、苌文龙
38版图图形的插孔方法、装置、存储介质和仿真方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411441627.02024-10-16CN118966139B2025-07-01郭瑞琦、张永博
39基于空间索引的插孔方法、装置、存储介质和设备发明专利实质审查的生效、公布CN202411442992.32024-10-16CN121881961A2026-04-17张永博、郭瑞琦
40一种版图处理方法、装置和计算机可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411428046.32024-10-14CN118940711B2025-07-01张永博、郭瑞琦
41基于器件属性概率分布的器件选择方法、装置及存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、公布CN202411411601.12024-10-11CN118942107A2024-11-12王同营、蓝帆
42基于器件属性概率分布的器件筛选方法、装置及存储介质发明专利发明专利申请公布后的驳回、公布CN202411411577.12024-10-11CN118942106A2024-11-12王山川、蓝帆
43版图文件拼接方法、装置和计算机可读存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411368670.92024-09-29CN118887085B2025-03-18施向波、张永博
44一种设计规则检查结果的过滤方法、装置及存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411357796.62024-09-27CN118862827B2025-02-25鲁海洋、方益
45晶圆数据处理方法、装置、芯片和计算机可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411360685.02024-09-26CN119312101A2025-01-14万海洋、杨文浩
46晶圆数据处理方法、装置、芯片和计算机可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411353880.02024-09-26CN119312185A2025-01-14万海洋、杨文浩
47数据处理方法、装置、芯片和计算机可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202411360549.12024-09-26CN119312247A2025-01-14万海洋、杨文浩
48一种版图结构自动抽取方法发明专利著录事项变更、授权、实质审查的生效、公布CN202411349066.12024-09-26CN118862807B2025-03-14彭焱、黄雁玲
49栅极多晶硅短接测试结构及其生成方法、装置和存储介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411346965.62024-09-26CN118858907B2025-03-18吴振雄、杨璐丹、林均铭
50栅极多晶硅断路测试结构及生成方法、装置、设备和介质发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202411346862.X2024-09-26CN118858905B2025-03-18吴振雄、杨璐丹、林均铭

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