导读:中欣晶圆申请破除真空装置相关专利,该装置平稳破真空,防硅片损提良品率
10月8日消息,国家知识产权局信息显示,杭州中欣晶圆半导体股份有限公司申请一项名为“硅片端面研磨机用破除真空装置及其控制方法”的专利。申请公布号为CN122851461A,申请号为CN202610869714.9,申请公布日期为2026年10月2日,申请日期为2026年6月16日,发明人杨石平,专利代理机构杭州融方专利代理事务所(普通合伙),专利代理师沈相权,分类号B24B37/10、B24B37/04、B24B37/30、B24B37/34、B24B55/00、B24B37/005、B24B49/16、B24B1/00、H10P52/00、G08B21/18。
专利摘要显示,本发明涉及一种硅片端面研磨机用破除真空装置及其控制方法,所属硅片加工设备技术领域,包括下机架、真空吸盘、研磨盘及真空吸附破除组件;真空吸附破除组件包括三通接头,三通接头分别通过设有真空管道、CDA管道与真空吸盘连通。控制方法包括:硅片吸附固定时开启真空单向电磁阀;研磨完成后,通过PLC控制器互锁控制关闭真空单向电磁阀,延时后开启CDA单向电磁阀,通入压缩空气正压破除真空。通过PLC互锁控制与CDA正压吹气破真空相结合,实现了吸附与破除的可靠切换,破真空速度快、平稳,有效避免了硅片因真空未及时破除造成的取片困难或碎裂风险;同时结合压力监测实现闭环确认与故障报警,显著提升了硅片研磨加工的自动化程度与良品率。
天眼查数据显示,杭州中欣晶圆半导体股份有限公司成立日期2017年9月28日,法定代表人贺贤汉,所属行业为计算机、通信和其他电子设备制造业,企业规模为大型,注册资本523559.0107万人民币,实缴资本122666.67万人民币,注册地址为浙江省杭州市钱塘区东垦路888号。杭州中欣晶圆半导体股份有限公司共对外投资了6家企业,参与招投标项目44次,财产线索方面有商标信息7条,专利信息489条,拥有行政许可24个。
杭州中欣晶圆半导体股份有限公司近期专利情况如下:
| 序号 | 专利名称 | 专利类型 | 法律状态 | 申请号 | 申请日期 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日期 | 发明人 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 用于CVD不锈钢备件边框的低腐蚀复合清洗液及清洗工艺 | 发明专利 | 公布 | CN202611114252.6 | 2026-07-27 | CN122773362A | 2026-09-18 | 吕进午 |
| 2 | 一种直接检测熔汤温度的单晶炉测温装置和方法 | 发明专利 | 公布 | CN202611022169.6 | 2026-07-09 | CN122751328A | 2026-09-15 | 高洪涛、杨凯、曹雁、芮阳、河野贵之、张友海 |
| 3 | 一种防边缘塌边的硅片磨片工艺 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202611000756.5 | 2026-07-07 | CN122626084A | 2026-08-25 | 缪燃 |
| 4 | 一种改善硅片边缘质量的抛光液及抛光工艺 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610965685.6 | 2026-06-30 | CN122668633A | 2026-09-01 | 姜翠兰、徐威楠、郭天天、张友海 |
| 5 | 半导体晶圆粗抛液精准配液装置及其配液方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610948076.X | 2026-06-29 | CN122516906A | 2026-08-07 | 毛国领 |
| 6 | 倒角边缘硅粉残留吹扫装置及其控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610936296.0 | 2026-06-26 | CN122644334A | 2026-08-28 | 方一栋 |
| 7 | 一种基于背光透射成像的重掺硅片通孔无损检测方法与系统 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610912668.6 | 2026-06-24 | CN122671453A | 2026-09-01 | 马艺迪 |
| 8 | 一种晶圆缺陷检测及质量判定方法和系统 | 发明专利 | 公布 | CN202610912667.1 | 2026-06-24 | CN122775683A | 2026-09-18 | 罗国菁 |
| 9 | 半导体硅片包装可视化智能管控系统及其方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610897524.8 | 2026-06-22 | CN122864880A | 2026-10-02 | 包亚平 |
| 10 | 硅片端面研磨机用破除真空装置及其控制方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610869714.9 | 2026-06-16 | CN122851461A | 2026-10-02 | 杨石平 |
| 11 | 用于半导体晶圆测试载台及其控制方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610834004.2 | 2026-06-10 | CN122766307A | 2026-09-15 | 李君 |
| 12 | 一种APCVD洗净设备翻面下料控制机构、装置及方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610795431.4 | 2026-06-04 | CN122784364A | 2026-09-18 | 王方立 |
| 13 | 一种减少硅片抛光面颗粒的工艺方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610796796.9 | 2026-06-04 | CN122803613A | 2026-09-22 | 王骞玮 |
| 14 | 校准ICP-MS前机台的清洗方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610743000.3 | 2026-05-27 | CN122462314A | 2026-07-28 | 苏慧云 |
| 15 | 晶圆边缘抛光真空吸盘抛布精准定位工装及其控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610714833.7 | 2026-05-22 | CN122645192A | 2026-08-28 | 陈彬 |
| 16 | 硅片双面抛光抛光垫的贴附优化方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610460108.1 | 2026-04-09 | CN122442510A | 2026-07-24 | 吴平 |
| 17 | 一种改善硅片平坦度和表面微观纳米形貌的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610433578.9 | 2026-04-03 | CN122033767A | 2026-05-15 | 张文军 |
| 18 | 一种基于H | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610435085.9 | 2026-04-03 | CN122318758A | 2026-06-30 | 王鸣 |
| 19 | LAP研磨液分流装置及其改进方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610401390.6 | 2026-03-30 | CN122099994A | 2026-05-29 | 孙贵昌 |
| 20 | 研磨机磨轮牙齿边缘视觉识别与磨损程度评估算法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610381764.2 | 2026-03-26 | CN122335698A | 2026-07-03 | 冯黎明 |
| 21 | 一种能准确检出重掺品单晶气孔不良率的检出系统及方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610364165.X | 2026-03-24 | CN122305916A | 2026-06-30 | 张晨阳、康海洋、蔡敏杰 |
| 22 | 减少清洗后硅片表面残留水的装置及其控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610357091.7 | 2026-03-23 | CN122008067A | 2026-05-12 | 石建群 |
| 23 | 硅片研削设备平坦度TTV稳定性加工方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610357084.7 | 2026-03-23 | CN122299516A | 2026-06-30 | 苏鹏辉 |
| 24 | 一种边缘腐蚀机生产工艺中的柔性可调水平暂存台系统及操作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610300126.3 | 2026-03-12 | CN122126635A | 2026-06-02 | 万琨 |
| 25 | 一种外延污染监控硅片及其生产方法和应用 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610299599.6 | 2026-03-12 | CN122180364A | 2026-06-09 | 孙若力 |
| 26 | 基于BBS边抛机移载机的柔性合夹、移位、清洗系统及处理方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610264655.2 | 2026-03-05 | CN121972433A | 2026-05-05 | 金忠谱 |
| 27 | 一种半导体外延片工艺中降低硅片翘曲度的系统及操作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610191045.4 | 2026-02-10 | CN122270106A | 2026-06-23 | 吴瑶 |
| 28 | 针对硅片黑十字光消失原理的产品单晶缺陷锁定系统及方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610152360.6 | 2026-02-03 | CN122108938A | 2026-05-29 | 任梦 |
| 29 | CMP设备的研磨液精准供给系统及其控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610128880.3 | 2026-01-30 | CN121733440A | 2026-03-27 | 刘肖 |
| 30 | 用于超低电阻硅片的电容式平坦度测量装置及其控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610128881.8 | 2026-01-30 | CN122015634A | 2026-05-12 | 张迪 |
| 31 | 基于复合化学机械抛光与低损伤等离子蚀刻的晶圆表面协同处理工艺 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610124745.1 | 2026-01-29 | CN122206247A | 2026-06-12 | 裴宁 |
| 32 | 一种硅片片盒传递的分选机取送料系统及操作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610101895.0 | 2026-01-26 | CN122057704A | 2026-05-19 | 张晨阳、康海洋、蔡敏杰 |
| 33 | 改善最终外观目检台聚光灯消耗的结构及其降本增效方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610066824.1 | 2026-01-19 | CN121782552A | 2026-04-03 | 李林秀 |
| 34 | 通过颗粒测试机台测试热氧化后先行片孪晶缺陷的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610066826.0 | 2026-01-19 | CN122094438A | 2026-05-26 | 宋金会 |
| 35 | 一种减少硅片DIC异常的柔性吸附转移系统及放置方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610066822.2 | 2026-01-19 | CN122094437A | 2026-05-26 | 侯文艺 |
| 36 | 针对成品晶圆的包装盒可视检测系统及码放精度测量方法 | 发明专利 | 公布 | CN202610021292.X | 2026-01-08 | CN121829314A | 2026-04-10 | 王伟东 |
| 37 | 提升硅片表金属清洗效率且环境友好型的工艺方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202610021291.5 | 2026-01-08 | CN122054939A | 2026-05-15 | 毛攀 |
| 38 | 一种修整8英寸硅片抛光站陶瓷盘的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512037297.X | 2025-12-31 | CN121696834A | 2026-03-20 | 张森阳 |
| 39 | 检测晶体微小缺陷的方法 | 发明专利 | 公布 | CN202512046375.2 | 2025-12-31 | CN121830714A | 2026-04-10 | 何珍碧 |
| 40 | 一种提升硅片良率的多位置快速吸附机构及操作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512046368.2 | 2025-12-31 | CN121888919A | 2026-04-17 | 石建群 |
| 41 | 一种8吋硅片酸腐蚀加工工艺 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512037300.8 | 2025-12-31 | CN121888881A | 2026-04-17 | 缪燃 |
| 42 | 降低LPCVD工艺中单晶硅片翘曲度的方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512046344.7 | 2025-12-31 | CN121874744A | 2026-04-17 | 崔涛、李鹏 |
| 43 | 一种提高晶圆双面抛光表面质量的化学机械抛光液及抛光方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512037304.6 | 2025-12-31 | CN121895868A | 2026-04-21 | 马成智 |
| 44 | 一种降低边缘抛光碎裂片的加工方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512037302.7 | 2025-12-31 | CN121946339A | 2026-05-01 | 徐威楠 |
| 45 | 一种提高重掺红磷单晶成晶率的热屏辐射装置 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512020705.0 | 2025-12-30 | CN121874901A | 2026-04-17 | 王忠保、张友海、杨凯、芮阳、倪浩然、白园、赵娜、李俊丽 |
| 46 | 一种可调节的硅片粗糙度的制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512020706.5 | 2025-12-30 | CN121908871A | 2026-04-21 | 李媛 |
| 47 | 一种IGBT用硅单晶轻掺厚外延片的外延层厚度在线检测方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512020699.9 | 2025-12-30 | CN121908855A | 2026-04-21 | 郭体强、齐旭东 |
| 48 | 一种用于半导体晶圆化学机械抛光的低缺陷率复合抛光液及其制备方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512020703.1 | 2025-12-30 | CN121950188A | 2026-05-01 | 姜翠兰 |
| 49 | 基于晶圆倒角机的缓冲吸附机械手系统及操作方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202512007568.7 | 2025-12-29 | CN121696852A | 2026-03-20 | 杜书红 |
| 50 | 一种应用于硅片的抛光液自动配比供应系统及控制方法 | 发明专利 | 实质审查的生效、公布 | CN202511988919.0 | 2025-12-26 | CN121879445A | 2026-04-17 | 李炎 |
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